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紅外光譜未知異物分析

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發(fā)布時間: 2024/12/9 16:20:00
紅外光譜未知異物分析 詳細說明
  未知異物分析主要針對較難辨別異物類型的情況下進行的綜合分析,主要是結(jié)合了有機異物分析及無機異物分析的方法。其分析手段主要有以下幾種:



分析手段 典型應用 分析特點 參考標準
紅外光譜FTIR 有機物定性;有機污染物分析 能進行微區(qū)分析,其顯微鏡測量孔徑可到8μm或更小,可方便地根據(jù)需要選擇樣品不同部分進行分析 GB/T 6040-2002
掃描電子顯微鏡&X射線能譜SEM/EDS 表面微觀形貌觀察;微米級尺寸量測;微區(qū)成分分析;污染物分析 能快速的對各種試樣的微區(qū)內(nèi)Be~U的大部分元素進行定性、定量分析,分析時間短 JY/T 010-1996
GB/T 17359-2012
飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS 有機材料和無機材料的表面微量分析;表面離子成像;深度剖面分析 優(yōu)異的摻雜劑和雜質(zhì)檢測靈敏度可以檢測到ppm或更低的濃度;深度剖析具有良好的檢測限制和深度辨析率;小面積分析 ASTM E1078-2009
ASTM E1504-2011
ASTM E1829-2009
動態(tài)二次離子質(zhì)譜D-SIMS 產(chǎn)品表面微小的異物分析;氧化膜厚度分析;摻雜元素的含量測定 分析區(qū)域小,能分析≥10μm直徑的異物成分;分析深度淺,可測量≥1nm樣品;檢出限高,一般是ppm-ppb級別 ASTM E1078-2009
ASTM E1504-2011
ASTM E1829-2009
俄歇電子能譜AES 缺陷分析;顆粒分析;深度剖面分析;薄膜成分分析 可以作表面微區(qū)分析,并且可以從熒光屏上直接獲得俄歇元素像 GB/T 26533-2011
X射線光電子能譜XPS 有機材料、無機材料、污點、殘留物的表面分析;表面成分及化學狀態(tài)信息;深度剖面分析 分析層薄,分析元素廣,可以分析樣品表面1-12nm的元素和元素含量 GB/T 30704-2014
本產(chǎn)品網(wǎng)址:http://zgyywsbw.com/sjshow_507801194/
手機版網(wǎng)址:http://m.vooec.com/trade_507801194.html
產(chǎn)品名稱:紅外光譜未知異物分析
 
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